淡江大學物理學系

年度	94
論文名稱	Variation of Electronic Structures of CeAl2 Thin Films with Thickness Studied by X-Ray Absorption Near-Edge Structure Spectroscopy
全部作者	Dong, C. L.; Asokan, K.; 張經霖; Chang, C. L.; Chen, C. L.; Lee, P. C.; Chen, Y. Y.; Lee, J. F.; Guo, J. H.
卷數	Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 152(1-2), pp.1-5
ISSN(ISBN)	0368-2048
使用語言	英文
備註	期刊論文